核工業(ye) 北京地質研究院分析測試研究中心采購了兩(liang) 台特殊的質譜儀(yi) ，今年兩(liang) 台設備同時到貨、安裝，一台是法國CAMECA公司的IMS 1280-HR高分辨二次離子質譜儀(yi) ，另一台是TESCAN公司的雙束聚焦離子束與(yu) 飛行時間二次離子質譜聯用係統。

　　之所以采購兩(liang) 台二次離子質譜，是因為(wei) 高分辨質譜儀(yi) 以*的檢出限以及超高的分辨能力和精度著稱，但成像及原位分析能力較差;而聯用係統是掃描電鏡(SEM)、聚焦離子束(FIB)和飛行時間二次離子質譜(TOF-SIMS)，三者的結合，具有SEM的二維高分辨成像和成分、結構等分析能力，結合FIB的微區分析與(yu) 加工能力，實現成分和結構的三維分析;FIB與(yu) TOF-SIMS的聯用，相比於(yu) 大型質譜儀(yi) 具有更高的空間分辨率、更快速的成像速度、更優(you) 異的成像能力，同時操作也更簡單靈活。

        整套聯用係統可同時進行原位超輕元素、同位素分析能力，此外還可以對元素、同位素等進行二維、三維成像分析。

　　TESCAN公司在電子顯微鏡和聚焦離子束領域有多項創新，是掃描電子顯微鏡與(yu) 拉曼光譜儀(yi) 聯用技術、聚焦離子束與(yu) 飛行時間質譜儀(yi) 聯用技術以及氙等離子聚焦離子束技術的開拓者，也是行業(ye) 領域的技術領導者。

　　這是國內(nei) 首套雙束聚焦離子束與(yu) 飛行時間二次離子質譜聯用係統，TESCAN十分重視和核工業(ye) 北京地質研究院的合作，研發部的專(zhuan) 家專(zhuan) 程到北京進行培訓，並和中心主任郭冬發研究員、書(shu) 記範光研究員等專(zhuan) 家進行了交流。

　　TESCAN公司表示，他們(men) 將繼續跟蹤雙束聚焦離子束與(yu) 飛行時間二次離子質譜聯用係統的新應用進展，同時也歡迎感興(xing) 趣的用戶前來參觀和交流。

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