電學試驗儀器

電波暗室

別稱:

說明:電磁屏蔽室用於(yu) 隔離室內(nei) 和室外的電磁環境,既可防止外部電磁幹擾進入室內(nei) ,影響被試設備的測試, 是 EMC 傳(chuan) 導騷擾和傳(chuan) 導抗擾度等測試的理想場地。

技術參數

、 設備介紹

       屏蔽室用於(yu) 隔離室內(nei) 和室外的電磁環境,既可防止外部電磁幹擾進入室內(nei) ,影響被試設備的測試, 是 EMC 傳(chuan) 導騷擾和傳(chuan) 導抗擾度等測試的理想場地。   

電波暗室除地麵為(wei) 金屬反射麵外,其餘(yu) 麵均貼有吸波材料,可模擬開闊場地的測試 條件。半電波暗室相對於(yu) 開闊場而言,它不受氣候條件的限製和背景噪聲的影響,作為(wei) 電 磁幹擾的替換測試場地得到廣泛應用。 我們(men) 為(wei) 為(wei) 客戶提供半電波暗室設計、建造、場地驗收、設備集成、安裝調試、技術服 務等一係列完善服務。

竣工後的暗室工作頻率範圍為(wei) 9kHz~18GHz。 本次電磁兼容實驗室建設項目針對電子產(chan) 品的電磁兼容測試要求而建設的,包括一個(ge) 標準 3 米法半電波暗室,一個(ge) 屏蔽控製室,一個(ge) 功放室及配套係統。電波暗室及測試係統 建設完成以後,可達到認證實驗室的要求。

並預留擴展空間,後續隻需增加設備和配件實現 家電、電動工具、低壓電器等行業(ye) 產(chan) 品的電磁兼容性測試要求,滿足研發、第三方認證的要求。本項目為(wei) 交鑰匙工程項目,供應方負責全部工程項目的設計、製造、安裝、調試,保證 達到各項技術指標性能和相關(guan) 標準要求。

  

二、設計依據

  主要依據的標準:

  ANSI C63.4 《American NationaStandard for Methods of Measurement of Radio-Noise Emissions from Low-Voltage Electricaand Electronic Equipment in the Range of 9kHz-40GHz》

  CISPR 16-1-4:2012 《 Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods-Part 1-4: Radio disturbance and immunity measuring apparatus-Antennas and test sites for radiated disturbance measurements》

  EN50147 《高性能屏蔽室屏蔽效能的測量方法》

  GB/T 12190 《電磁屏蔽室屏蔽效能的測量方法》

  IEC/EN 61000-4-3《電磁兼容性試驗和測量技術射頻電磁場輻射抗擾度試驗》

  中華人民共和國國家軍(jun) 用標準《電磁兼容電測試實驗室認可要求》

  CISPR 22/GB 9254-2008《信息技術設備的無線電騷擾限值和測量方法》

  發泡型吸波材料的安全特性依據GB2406 & NRL report 8093執行

  GB/T 6113.1《無線電騷擾和抗擾度測量設備規範》

  CISPR 11(GB 4824)《工業(ye) 、科學和醫療射頻設備射頻幹擾特性的測量方法和極限》

  CISPR 12(GB 14023)《車輛、機動船和由火花點火發動機驅動的裝置的無線電幹擾 特性的測量方法及允許值》

  CISPR 13(GB 13837)《聲音和電視接收機的射頻幹擾特性的測量方法和極限值》

  CISPR 14(EN55014、GB 4343)《家用和類似用途電動、電熱器具、電動工具以及 類似電器無線電幹擾特性測量方法和允許值》

  CISPR 14.1 (GB 4343.1)《家用電器和便攜式工具射頻幹擾特性測量方法和極限值》

  CISPR 15(GB17743)《電氣照明和類似設備的無線電騷擾特性的限值和測量方法》

  CISPR 16 (GB/T 6113)《射頻幹擾測量裝置和測量方法的規範》

  CISPR16-1-4 《無線電幹擾和抗擾度測試裝置和方法規範 第1-4部分:無線電幹擾和 抗擾度測試裝置 輔助設備 輻射幹擾》

  CISPR 23 《工、科、醫設備騷擾限值的確定》

  CISPR 24 《信息技術設備的抗擾度》

三、性能指標

1.屏蔽效能:


符合 CISPR16、ANSI C63.4 等標準的新版本對場衰減的要求。按規定在測試距離為(wei) 3 米,靜區直徑為(wei) 2 米,高 2 米的圓柱體(ti) 內(nei) 所有位置從(cong) 30MHz 至 1GHz 進行歸一化場衰減 測試,按照 3 米法測量的歸一化衰減(NSA)值與(yu) 理論值偏差優(you) 於(yu) ±4.0 dB(天線偏軸不超過 15°)。

標準要求發射天線在五個(ge) 地麵位置,,在垂直和水平兩(liang) 種極化下進行共20組測量。

 

歸一化場地衰減(NSA) 測試標準:依據 GB/T   6113.104( CISPR 16-1-4 )進行測試

3米測試距離

靜區:2.0 米(直徑)×2.0 米(高),中心位於(yu) 暗室中軸線

NSA:優(you) 於(yu) ±4.0dB

極化方式

水平和垂直極化

頻率範圍

從(cong) 30MHz 至 1GHz

測試方法

測試區域為(wei) 圓柱體(ti) ,高度參照地麵的高度 發射天線水平高度為(wei) 1 米、2 米、2.5 米; 發射天線垂直高度為(wei) 1 米、1.5 米、2m;   接收天線在 1~4 米高度掃描; 發射天線位於(yu) 測試區域的 5 點:前、後、左、右、中。

暗室的屏蔽體(ti) 、濾波器、波導窗等組件安裝完畢後,按照標準 EN50147, GB/T12190-新標準的要求進行測試在 9kHz~18GHz 頻率範圍內(nei) ,暗室和所有屏蔽 室的屏蔽效能達到下列指標:

                    依據標準 GB/T 12190-2006 電磁屏蔽室屏蔽效能的測量方法

                    場 源

                    頻率(MHz)

                    屏蔽效能(dB)

                    磁場

                    0.01

                    ≥80

                    磁場/電場

                    0.1

                    ≥90

                    電場

                    1

                    ≥110

                    電場

                    100

                    ≥110

                    電場

                    450

                    ≥110

                    電場

                    950

                    ≥110

                    電場

                    3000

                    ≥100

                    電場

                    10000

                    ≥100

                    電場

                    18000

                    ≥100

2.歸一化場地衰減(NSA) 

 

3.背景噪聲

符合 CISPR22 Claas B(GB/T 9254)的規定。在 30MHz-6GHz 的頻率範圍內(nei) ,無 EUT 的情況下,測得的環境電平值,至少低於(yu) 規定的 B 級限值 10dB。

 

4.  場均勻性(FU)

按照 IEC61000-4-3步驟和規定,符合 EN61000-4-3和 GB/T17626.3的等新標準的要求 場均勻度測試,標準場為(wei) 轉台之上0.8米-2.3米範圍內(nei) 1.5米 x1.5米的垂直平麵,按照3米測試距 離要求16個(ge) 測試點的75%即12點場均勻性在0-6dB 之間。測試要求如下:

 

 

 

場均勻性(FU) 測試標準:依據IEC61000-4-3 (EN61000-4-3)進行測試

測試距離

3

極化方式

水平和垂直

發射天線

雙錐、對數周期天線安放在半電波暗室長軸向

接收天線

寬帶、各向同性探頭,水平極化:16 個(ge) 位置,垂直極化:16 個(ge) 位置

測試區域

地麵(轉台位置)之上 0.8m-2.3m範圍內(nei) 1.5m×1.5m的垂直平麵, 中心高度:1.55m

地麵吸波材料

FU測試用吸波材料

場均運性限製

16 個(ge) 測試點中至少有 12 個(ge) 點間較大場強偏差在 0~+6.0dB內(nei)


5.場地電壓駐波比(site VSWR)

 

半電波暗室的場地電壓駐波比(sVSWR)按照標準 CISPR 16-1-4新版本的要求進行測 試。測試頻率範圍1GHz~18GHz,測試距離3m,靜區為(wei) 直徑2m、高2m 的圓柱體(ti) 。測量得到 的3米法半電波暗室的場地電壓駐波比(sVSWR)≤6.0dB。測試要求如下:

場地電壓駐波比(site VSWR) 測試標準:依據CISPR 16-1-4 進行測試

測試距離

3

發射天線高度

1 米,2 米,全向天線

接收天線高度

1 米,2 米

測試要求:發射天線高度

水平極化:1m 和 2m; 垂直極化:1m 和 2m

測試位置

發射天線位 1m 時測試區域的 4 點:中、前、左和右 於(yu) 2m 時,隻測試前點

極化方式

水平和垂直

測試區域

與(yu) 轉台同圓心,直徑 2.0 米高 2.0 米的圓柱體(ti)

測試結果

SVSWR≤6.0dB

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